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本文標(biāo)題:偏光檢測(cè)時(shí)晶體的表面形態(tài)是什么

信息分類(lèi):站內(nèi)新聞　新聞來(lái)源：未知發(fā)布時(shí)間：2015-10-9 16:11:37

偏光檢測(cè)時(shí)晶體的表面形態(tài)是什么

對(duì)于晶體物質(zhì)來(lái)說(shuō)，它的結(jié)構(gòu)組織的組成則需要具

有一定的結(jié)晶習(xí)性才能夠構(gòu)成一定的形態(tài)結(jié)構(gòu)。

而通常晶體的形狀與大小以及晶體的完成程度或是

形成的條件與順序是密切相關(guān)的，這樣不僅僅可以

用來(lái)鑒定晶體，同時(shí)還可以用來(lái)推測(cè)出晶體的形成

條件。

但是我們需要注意的是，在檢測(cè)晶體物質(zhì)時(shí)，如果

所需要檢測(cè)的晶體形態(tài)并不是完整的一個(gè)立體形態(tài)

，則所檢測(cè)的是一個(gè)晶體的某一切片，而晶體切片

的方向不同所表現(xiàn)的形態(tài)結(jié)構(gòu)是不相同的。

通常情況下我們?cè)?a title="顯微鏡" target="_blank" class="sitelink">顯微鏡單偏光鏡下所觀察到的晶

體形成程度，則是一種晶體邊棱的規(guī)程程度，而對(duì)

于這種晶體的程度則是根據(jù)不同的形貌特征進(jìn)行劃

分類(lèi)型的。