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本文標(biāo)題:什么是顯微檢測時(shí)出現(xiàn)的干涉色

信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源:未知 發(fā)布時(shí)間:2015-10-9 10:41:38
什么是顯微檢測時(shí)出現(xiàn)的干涉色

對(duì)于使用偏光顯微鏡對(duì)晶體表面進(jìn)行顯微觀察檢測
時(shí),所出現(xiàn)的干涉色,則是由于顯微鏡在正交檢偏
位置的情況下出現(xiàn)的。

因此在這種情況下則需要使用各種不同的波長對(duì)所
需要混合的光線進(jìn)行觀察晶體表面的雙折射體。

這就需要我們把顯微鏡上的載物臺(tái)進(jìn)行旋轉(zhuǎn),而在
視場中不僅僅是最亮的對(duì)角位置,同時(shí)還可以觀察
到晶體的顏色。

而晶體在顯微檢測時(shí)出現(xiàn)顏色的主要原因,則是由
于顯微觀察時(shí)干涉色造成的,而這種干涉色還可以
對(duì)物質(zhì)本身不是無色透明的物質(zhì)才行。

因此我們可以說晶體物質(zhì)表面檢測時(shí)的干涉色的主
要特點(diǎn)則分布玩的晶體雙折射的各類與晶體的切片
厚度進(jìn)行決定的。

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本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司,本文地址:http://m.x81g.cn/xinwen/1873.html  
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