本文標(biāo)題:硅氧烷涂層和在紙中涂覆樣品檢測(cè)顯微鏡
信息分類:行業(yè)動(dòng)態(tài) 新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2017-10-3 23:31:36
硅氧烷涂層和在紙中涂覆樣品檢測(cè)顯微鏡
為了確保達(dá)到最佳激發(fā)，如果用途不同寸，采用不同的放射性
同位素很有必要。對(duì)硅氧烷涂層和在紙中的二氧化鈦，采用鐵—55
(Fe—55)源-因?yàn)殍F—55的X射線比較柔和(低能量)，不會(huì)在試樣中
穿越很遠(yuǎn)。而對(duì)于在膜上的銀，則采用能量更高的镅—241源。
將試樣放置在距離輻射源僅幾毫米處，以達(dá)到比較高的靈敏度
。試樣距激發(fā)源越近，對(duì)試樣的輻射越有效。低能X射線(如硅元素
的X射線)很容易被環(huán)境吸收，應(yīng)當(dāng)進(jìn)行氦凈化。必要時(shí)，選擇最佳
輻射和氦凈化，大多數(shù)試樣的計(jì)量時(shí)間一般在2nfin之內(nèi)。
可以將不同元素和材料的校準(zhǔn)曲線直接存儲(chǔ)在儀器中以備調(diào)用
。校準(zhǔn)曲線是通過測(cè)試一套已知試樣或同一材料的標(biāo)準(zhǔn)試樣建立起
來的，因?yàn)閄FR是一項(xiàng)比較技術(shù)，所以，后續(xù)的分析工作與所使用
的校準(zhǔn)曲線的精確度有關(guān)：
整體累積強(qiáng)度實(shí)際上是被分析元素和背景材料信號(hào)的合并，背
景強(qiáng)度可以隨著材料的厚度或基礎(chǔ)質(zhì)量變化�？梢酝ㄟ^測(cè)試未涂覆
或空白試樣測(cè)定其中的差別，測(cè)定結(jié)果將自動(dòng)合并到校準(zhǔn)曲線。
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本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://m.x81g.cn/xwjdt/2488.html
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