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本文標(biāo)題:偏光顯微鏡觀測物體的時候使用正交檢偏位屬于雙折射體

信息分類:站內(nèi)新聞　新聞來源：未知發(fā)布時間：2015-11-23 16:53:43

偏光顯微鏡觀測物體的時候使用正交檢偏位屬于雙折射體

一般情況下，使用正交檢偏位下進行試樣的觀測的話，

使用的都是雙折射體進行的，這樣的檢測會出現(xiàn)不同的

效果，如下說說不同的情況，

首先，如果是在正交檢偏位對試樣進行觀測的話，其視

場中不會看到單折射體進行物體的觀測，檢測的物體中都

是雙折射體，這樣就可以在觀測中看到物體所發(fā)出的光，

雙折射體觀測的物體都是正交檢偏位下進行的，使用的

載物臺也是旋轉(zhuǎn)的，雙折射體的成像是需要進行360度的

旋轉(zhuǎn)的，這樣就會形成很鮮明的明暗對比，

每一次變化的旋轉(zhuǎn)的度數(shù)是在90度，這樣就會出現(xiàn)變暗

的位置，稱這樣的位置為消光，然后在此位置上進行45度的

旋轉(zhuǎn)，就會出現(xiàn)試樣的最亮位置，稱這樣的位置為對角位置。

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