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本文標(biāo)題:顯微觀察時(shí)顯微組織的分布測量

信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源:未知 發(fā)布時(shí)間:2015-5-1 11:27:05
顯微觀察時(shí)顯微組織的分布測量

多年來依靠顯微組織的業(yè)性描述或者以圖片比較
法為基礎(chǔ)的評定。

通常標(biāo)準(zhǔn)精確測定試樣之間的差異,用標(biāo)準(zhǔn)晶粒
大小有相當(dāng)高的精確度,只要制備得到清晰的晶
粒分布均勻就可以。

用不超過比較評定法所要求的時(shí)間內(nèi)進(jìn)行測量而
獲得更高的精確度。

合理應(yīng)用簡單計(jì)數(shù)方法可以精確完整地描述顯微
組織特性。

這些測量方法因而也可應(yīng)用于質(zhì)量評定確定是否
符合標(biāo)準(zhǔn)研究生長或相變動(dòng)力學(xué)或組織性能關(guān)系。

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本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司,本文地址:http://m.x81g.cn/xinwen/1549.html  
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