本文標題:顯微鏡偏光性質(zhì)與所發(fā)生的雙折射性
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-4-22 11:36:37
顯微鏡偏光性質(zhì)與所發(fā)生的雙折射性
顯微鏡偏光性質(zhì)檢查雙折射性的性質(zhì)，電子狀態(tài)其折射
率的差異互相垂直的兩個偏振作用。
或者偏光顯微鏡當(dāng)具有某些其它層狀的結(jié)構(gòu)規(guī)模小于所
使用光線波長。
偏光顯微鏡所均可發(fā)生這種雙折射性現(xiàn)象大于一個折射
率的結(jié)構(gòu)，可應(yīng)用偏光顯微鏡進行觀察。
偏光顯微鏡可把光線限制方位和方向，因此盡管分子測
定纖維性的規(guī)則或排列形式，正是偏光顯微鏡可從水平
上間接提供結(jié)構(gòu)排列細胞。
將本頁加入收藏
下一篇：透射電子顯微鏡對電鏡的使用程度
上一篇：干涉顯微鏡對觀察的標本細微結(jié)構(gòu)
本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://m.x81g.cn/xinwen/1531.html
工業(yè)顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
