本文標題:原子力顯微鏡電性能測試時需要導(dǎo)電性能
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-7-29 11:00:55
原子力顯微鏡電性能測試時需要導(dǎo)電性能
利用電性能測試時需要導(dǎo)電性能良好的載體，如石墨或鍍有金屬的基片。
樣晶的厚度包樣臺的厚度，最大試樣過重，有時會影響動作，請不要放
過重的試樣。
試樣的大小以不大于試樣臺的大小為大致的標準。稍微大一點也沒問題。
但是最大值約如果未固定好就進行測量可能產(chǎn)生移位。請固定好后再測
定。
將本頁加入收藏
下一篇：原子力顯微鏡對生物細胞的表面形態(tài)觀察
上一篇：原子力顯微鏡常用的納米加工技術(shù)
本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://m.x81g.cn/xinwen/1007.html
工業(yè)顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
